UL SUBJECT 2024A-2002 (草案)光纤电缆路由设备的调查大纲.发布编号:1

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【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringResistivityProfilesPerpendiculartotheSurfaceofaSiliconWaferUsingaSpreadingResistanceProbe
【原文标准名称】:用分布电阻探头测量硅晶片垂直于表面的纵断面电阻率的标准试验方法
【标准号】:ASTMF672-2001
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2001
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:垫圈;外形;试验;硅
【英文主题词】:profile;washers;testing;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:18P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Superconductivity--Criticaltemperaturemeasurement--Criticaltemperatureofcompositesuperconductorsbyaresistancemethod
【原文标准名称】:超导性.临界温度测量.复合超导体临界温度电阻测量法
【标准号】:JISH7309-2012
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2012-01-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonNon-FerrousMetals
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K11
【国际标准分类号】:29_050
【页数】:18P;A4
【正文语种】:日语