ASTM E175-1982(2010) 显微镜的标准术语
作者:标准资料网 时间:2024-05-20 05:13:16 浏览:8164
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【英文标准名称】:StandardTerminologyofMicroscopy
【原文标准名称】:显微镜的标准术语
【标准号】:ASTME175-1982(2010)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1982
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E41.01
【标准类型】:(Terminology)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:01_040_37;37_020
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
【原文标准名称】:显微镜的标准术语
【标准号】:ASTME175-1982(2010)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1982
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E41.01
【标准类型】:(Terminology)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:01_040_37;37_020
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
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